大家都知道，太阳能光伏产品进入市场基本上都是通过各个国家的认证要求的，为什么还会发生如此严重的质量问题呢?主要有以下几个原因：以及光伏组件EL检测仪的方法： 1.光伏组件的测试标准不完善 目前行业内主要采用的组件测试标准有：《IEC61215：2005地面用晶体硅光伏组件的设计鉴定和定型》、《IEC61730-1：2004光伏组件安全鉴定之结构要求》、《IEC61730-2：2004光伏组件安全鉴定之实验要求》和《UL1703:2004平面光伏模块...
查看更多 >>浏览次数：1,764 资讯
据专业生产太阳能组件EL测试仪的生产商最近获悉：相界是材料性能的关键点。研究团队刚刚发现，当用于太阳能电池的材料靠近相界时，组件EL测试仪检测氧化过程中产生的破坏远不止是氧化。 该论文的发表是物理与材料科学系（DPhyMS）内由Phillip Dale教授领导的能源材料实验室（LEM）和Susanne Siebentritt教授领导的光伏实验室（LPV）之间为期四年的研究项目和富有成效的合作成果。该项目由Diego Colombara和Hossam Elanzeery成...
查看更多 >>浏览次数：906 行业新闻
作为专业生产EL检测仪太阳能设备的生产商了解到最近的两项研究表明，太阳能领域取得了重大突破，可以使太阳能电池板更便宜、更高效。 首先最近由日本冲绳科学技术研究所领导的研究发现，如果用一种被称为钙钛矿的材料而不是目前大多数太阳能电池板的硅来制造，太阳能电池板可能会更便宜，效率更高。 这两项研究都是初步的——所涉及的方法还有待更广泛的EL检测仪测试。但是科学家们希望他们的突破能为商业领域更高效的太阳能发...
查看更多 >>浏览次数：835 行业新闻
“两年来，美国道康宁公司与弗劳恩霍夫光伏组件团队的研究人员展开合作。此次合作大大提高了对光伏组件EL测试仪原料要求的了解，尤其是可持续性及发电量方面，”道康宁光伏解决方案的全球科学与技术经理Andy Goodwin说道。 与此同时，此次测试已于第26届欧洲光伏太阳能峰会上发表。Mickiewicz最后说道：“这次研究证明了硅胶层非常适合应用在某些方面，因为硅胶壳保护内部的脆弱元件，而且能经受较大的温度波动。凭借这项技术，我...
查看更多 >>浏览次数：779 行业新闻
在网上给大家收集了随处可见一些光伏组件异常的照片，例如，图1电站着火、图2接线盒烧焦、图3PID失效、图4蜗牛纹现象、图5隔离条发黄、图6背板脱层等等。大家都知道，太阳能光伏产品进入市场基本上都是通过各个国家的认证要求的，为什么还会发生如此严重的质量问题呢?苏州莱科斯用EL检测仪测试出主要有以下几个原因： 1无法做到产品质量的持续监控 第三方的型式检验、监督检验、监督检查非常简单，并且在检...
查看更多 >>浏览次数：1,333 资讯
隐裂有多种，并不是所有的隐裂都会影响电池片的性能；在组件生产、运输、安装和维护过程中，考虑到晶硅组件的易裂特征，还需在各工序段和搬运、施工过程中改进和细化作业流程，减小组件隐裂的可能性。光伏组件EL检测仪设备是简单有效的检测隐裂的方法。 隐裂、热斑、PID效应，是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。今天莱科斯公司带大家了解一下电池片组件隐裂的原因、如何使用EL检测设备识别及预防方法。 1. 什么是“隐裂” ...
查看更多 >>浏览次数：3,429 资讯
隐裂片、破片原因分析 光伏组件EL检测仪测试由于产生隐裂片和破片的原因非常复杂，各种类型的外力因素均可能造成电池片裂纹甚至破片，因此很难寻求统一规律或得出确定性答案，因此现只对有可能造成晶体硅电池组件隐裂纹或破片的原因做探索性分析。 缺陷种类一：黑心片 EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑色区域，该部分没有发出1150nm的红外光，故红外相片中反映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载流子...
查看更多 >>浏览次数：1,648 行业新闻
虽然使用常规的测量方法可以确定太阳能电池的性能，但在实际操作条件下却很难获得预期的电能。PTB研究人员研制出一种新型测量装置，该装置利用基于激光的光谱IV测试仪测量方法，可以成功地对太阳能电池进行全面表征，其IV测试仪测量结果足以用来计算该电池在任何给定气候条件下的电能。该测量装置还可以在确定的标准测试条件（STC）下校准标准太阳能电池，测量不确定度小于0.4％，这是世界上唯一能实现如此低不确定度的同类装置...
查看更多 >>浏览次数：1,327 资讯
漏电流 太阳能电池片可以分3层，即薄层（即N区），耗尽层（即PN结），体区（即P区），对电池片而言，始终是有一些有害的杂质和缺陷的，有些是硅片本身就有的，也有的是我们的工艺中形成的，这些有害的杂质和缺陷可以起到复合中心的作用，可以虏获空穴和电子，使它们复合，复合的过程始终伴随着载流子的定向移动，必然会有微小的电流产生，便捷式IV测试仪检测这些电流对测试所得的暗电流的值是有贡献的，由薄层...
查看更多 >>浏览次数：7,298 资讯
传统单面电池组件的I-V测试仪是根据IEC 60904系列标准，在标准测试条件（STC：辐照度=1000W/㎡，电池片温度=25℃，AM=1.5）下进行测试。然而，由于其双面发电的特性，在测试其正反两面的输出功率时颇有难度，且目前国际上尚未发布统一的标准测试方法。因此，如何准确标定双面电池组件的功率成了亟待解决的难题，一方面是因为买卖双方在功率标定上存在较大分歧，严重制约了该产品的商业化路线；另一方面，双面组件功率的...
查看更多 >>浏览次数：1,408 资讯
1、概述 随着社会对绿色清洁能源的需求量急剧飙升，我国的组件生产量将进一步扩大，2010年中国太阳能电池产量达10673MW，占世界总额的44.7%，位居世界前列。缺陷检测是太阳电池组件生产制备过程中的核心步骤，因硅电池单元一般采用硅棒切割生产，在生产过程中容易受到损伤，产生虚焊、隐裂、断栅等问题，这些问题对电池的转换效率和使用寿命有着严重的影响，严重时将危害组件甚至光伏发电系统的稳定性。为了提高组件的效...
查看更多 >>浏览次数：3,315 技术问答
PID（Potentian Induced Degradation）是一种电势诱导衰减现象，最早由SunPower发现，是指组件长期在高电压下使得玻璃，封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池表面。使得电池表面的钝化效果恶化，导致填充因子（FF）， 短路电流（Isc），开路电压（Voc）降低，使得组件的性能低于设计标准，发电能力也随之下降。2010年，NREL和Solon证实了无论组件采取何种技术的P型晶硅电池，组件在负偏压下都有衰减的风险。 图 1...
查看更多 >>浏览次数：1,311 资讯
